HYIC卡动态弯扭试验机

HY（IC）IC卡动态弯扭试验机
技 术 参 数	配  置

本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。
1.测试速度：弯曲 扭曲30r/min及0.5Hz
2.测试周期：1~9999次	
3.扭曲度 ：±15°±1° 双向d=86 mm
4.正反向各15°，总扭曲角度30°
5.长边较大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
6.长边较小位移量为2mm±0.50mm，
7.短边较大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
8.长边较小位移量为1mm±0.50mm，
9.夹具安装尺寸完全按照国家标准执行。
10.长边弯曲工位数：5工位
11.短边弯曲工位数：5工位
12.双向扭转工位数：5工位
13仪器重量：70kg
14.电 压：AC220V±5%
15.功 率：35W
16.仪器的尺寸：长：74.5cm，宽：38cm  高：30cm 
	1、 IC卡动态弯扭试验机主机一台；
2、配置：
1）常用调试工具一套：
2）中国台湾STK交流调速电机系统一套；
3）中国台湾高精度齿轮减速系统一套；
4）高精度光电计数器一套
4）中国台湾衡翼高精度计数系统一套；
3、产品用途：
   用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。